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利用可能研究設備詳細

設備名 二重収束型質量分析装置(日本電子・JMS-700MStation)
設備コード S-WK-TIT-TEC-AMAC-7
カテゴリ 質量分析装置(MS)
仕様 イオン化法など:GC-EI、EI(DI)、FAB、FD
すずかけ台分析支援センター学外HPを参照してください。http://www.tsd.titech.ac.jp/~cama/gakugai/external-JMS700/index.html 
設備の所属 東京工業大学  技術部  すずかけ台分析部門 
設備管理者
石川 薫代 (技術部 5276)
利用受付 相互利用  依頼測定 
備考  
公開範囲
国立大学法人・大学共同利用機関法人
その他研究・教育機関
公企業・私企業

企業の方はお問い合わせ下さい

予算措置
設備ニュース 2016年10月3日
 GCが新しい物に更新されました。GC-MSの分析サービスを開始します。

2014年5月16日
 学外用HPはこちらからご覧頂けます。
http://www.tsd.titech.ac.jp/~cama/gakugai/external-JMS700/index.html

2015年10月23日
 GCが故障しました。メーカーサポート終了のため、修理不能です。当分の間GCインターフェイスが使用出来ませんのでお知らせします。

相互利用について

設備管理者の予約承認 学外利用者は必要、学内利用者は必要ない
利用可能曜日 日月火水木金土
上記の曜日で祝祭日であっても使えます。  
利用可能時間帯 00 時から  24時まで 
予約可能期間 翌月末 
予約制限 しない(予約可能期間内に同一アカウントでいくつ予約を入れても良い)  
利用資格 利用資格が必要です。 
マシンタイム 時間指定  1時間    
キャンセル料設定 なし(キャンセル料は取りません) 

利用料金

相互利用料金
FAB/EI(DI)/FD/GC-EI(定性)低分解能測定セルフライセンス利用
学外 600円 1サンプル 
学内 0円 1サンプル 
FAB/EI(DI)/FD/GC-EI(定性)高分解能測定セルフライセンス利用
学外 2000円 1サンプル 
GC-EI(定量SIM)低分解能測定セルフライセンス利用
学外 1200円 1サンプル 
GC-EI(定量SIM)高分解能測定セルフライセンス利用
学外 2000円 1サンプル 
セルフライセンス講習(FAB/EI(DI)/FDの1種類につき)
学外 2000円 回 
セルフライセンス講習(GC-MS定性、半定量につき)
学外 6000円 1回 
 
依頼測定料金
GC-EI(半定量・定量)依頼利用
学外 6000円 1測定 
EI(DI)/FAB/FD/GC-EI(定性)低分解能測定
学外 1500円 1測定 
FAB/EI(DI)/FD/GC-EI(定性)高分解能測定
学外 2000円 1測定 
 
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お問合せ先
自然科学研究機構分子科学研究所

〒444-8585 愛知県岡崎市明大寺町字西郷中38番地
大学連携研究設備ネットワーク事務局
電話番号:0564-55-7490
Email:

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