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利用可能研究設備詳細

設備名 透過型電子顕微鏡 JEOL(株)製 JEM-2010F
設備コード S-WK-TIT-TEC-AMAC-18
カテゴリ 透過型電子顕微鏡 (TEM)
仕様 (日本電子 JEM-2101F)倍率:500〜1,500,000倍

分解能:粒子像 0.23 nm、格子像 0.14 nm

試料傾斜角:±30°

試料移動:2 nm (X, Y)

走査像観察(STEM)

組成分析(EDS)  試料数ミリグラム 
設備の所属 東京工業大学  技術部  すずかけ台分析部門 
設備管理者
魯 大凌 
利用受付 依頼測定 
備考 学内依頼者は直接に担当者に連絡して下さい。測定料金を学内課金よりもらいます。 
公開範囲
国立大学法人・大学共同利用機関法人
その他研究・教育機関
公企業・私企業

企業の方はお問い合わせ下さい

予算措置
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利用料金

依頼測定料金
依頼測定料金
学外 5000円 /30分 
 
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お問合せ先
自然科学研究機構分子科学研究所

〒444-8585 愛知県岡崎市明大寺町字西郷中38番地
大学連携研究設備ネットワーク事務局
電話番号:0564-55-7490
Email:

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