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利用可能研究設備詳細

設備名 X線回折装置(Smart Lab)
設備コード S-HD-HU-CRIS-35
カテゴリ 粉末・薄膜X線回折、小角散乱(XRD, SAXS)
仕様 高輝度X線源 及び In-Planeアームを搭載した試料水平配置高精度ゴニオメータを使用したX線回折装置であり、粉末試料測定に適した集中法光学系,薄膜試料の測定に適している多層膜ミラーを用いた平行ビーム光学系によるX線反射率測定,逆格子マップ測定,ロッキングカーブ測定などを簡単なユニット交換で組み替えて利用でき、インプレーンアームの搭載により、極薄膜の評価や完全極点測定が可能なシステムである。 
設備の所属 北海道大学  創成科学研究機構   
利用受付  
備考 http://openfacility.cris.hokudai.ac.jp/apparatus_list 
公開範囲
国立大学法人・大学共同利用機関法人
その他研究・教育機関
公企業・私企業
予算措置
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利用料金

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お問合せ先
自然科学研究機構分子科学研究所

〒444-8585 愛知県岡崎市明大寺町字西郷中38番地
大学連携研究設備ネットワーク事務局
電話番号:0564-55-7490
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