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利用可能研究設備詳細

設備名 形状測定レーザー顕微鏡システム( VK-X200)
設備コード S-HD-HU-CRIS-34
カテゴリ 表面粗さ・表面形状測定器
仕様 様々な試料について、多様な環境で微少三次元形状や表面の分布を測定できる。 
設備の所属 北海道大学  創成科学研究機構   
利用受付  
備考 http://openfacility.cris.hokudai.ac.jp/apparatus_list 
公開範囲
国立大学法人・大学共同利用機関法人
その他研究・教育機関
公企業・私企業
予算措置
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利用料金

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お問合せ先
自然科学研究機構分子科学研究所

〒444-8585 愛知県岡崎市明大寺町字西郷中38番地
大学連携研究設備ネットワーク事務局
電話番号:0564-55-7490
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