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利用可能研究設備詳細

設備名 ナノスケールX線構造解析装置(Nano-viewer IP)
設備コード S-HD-HU-CRIS-13
カテゴリ 粉末・薄膜X線回折、小角散乱(XRD, SAXS)
仕様 物質にX線を照射したときに発せられる散乱X線の回折パターンをイメージングプレートに記録することにより,ナノスケールでの構造情報,例えば金属ナノ粒子やポリマーの折畳み構造,配列状態タンパク質の集合形態など,多様なナノレベルでの構造に関する情報が得られる。
本装置は, 0.1-10ナノメートルの構造領域の評価に有効であり,電子顕微鏡をはじめとする既存の手法に相補的な知見を提供するものである。また,短時間で精度の良い構造評価が可能である,水を初めとする媒体の影響をうけない,溶液,粉体,結晶,フィルムなど様々な形態に対応可能であるなど,汎用性・効率性が高い。
測定範囲は、小角が2θ=0.07°(q=0.05nm-1)から、広角が2θ=45°(q=31.21nm-1).
カメラ長(試料と検出器の距離)が、金属ベローズ(連続可変真空パス)を使うことによって、400mm?700mm. 
設備の所属 北海道大学  創成科学研究機構   
利用受付  
備考 http://openfacility.cris.hokudai.ac.jp/apparatus_list 
公開範囲
国立大学法人・大学共同利用機関法人
その他研究・教育機関
公企業・私企業
予算措置
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利用料金

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お問合せ先
自然科学研究機構分子科学研究所

〒444-8585 愛知県岡崎市明大寺町字西郷中38番地
大学連携研究設備ネットワーク事務局
電話番号:0564-55-7490
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