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利用可能研究設備詳細

設備名 環境制御型走査型原子間力顕微鏡(Nanoscope IIIa)
設備コード S-HD-HU-CRIS-03
カテゴリ 走査型プローブ顕微鏡 (SPM, STM, AFM)
仕様 測定雰囲気(真空中、大気中、液中)や温度などの測定条件を制御して、探針と試料間に流れるトンネル電流あるいは探針と試料表面との相互作用を検出することによって物質表面の構造・物性情報あるいは物質表面に吸着した分子の配列などを高分解能(原子、分子オーダーの分解能)で得ることが可能。液中電極表面で生じる電気化学反応の解析も可能。
【用途】
・試料表面の原子配列,分子配列等の構造観察や評価
・高分子や有機物,生物試料(細胞・タンパク等)などの比較的柔らかい試料の形状測定
【仕様】
・コンタクト,タッピング,ノンコンタクトの観測モード
・環境制御観測が可能
Sample size 12x12 mm.
Stage size 12x12 mm.
Tapping mode resolution 0.05 nm.
Contact mode resolution 0.02 nm.
Force mode resolution 50 pN/m.
Laser 670nm, 1mW. 
設備の所属 北海道大学  創成科学研究機構   
利用受付  
備考 http://openfacility.cris.hokudai.ac.jp/apparatus_list 
公開範囲
国立大学法人・大学共同利用機関法人
その他研究・教育機関
公企業・私企業
予算措置
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利用料金

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お問合せ先
自然科学研究機構分子科学研究所

〒444-8585 愛知県岡崎市明大寺町字西郷中38番地
大学連携研究設備ネットワーク事務局
電話番号:0564-55-7490
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