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利用可能研究設備詳細

設備名 走査プローブ顕微評価装置 独国オミクロン社製
設備コード S-CB-NAU-ENG-18
カテゴリ 走査型プローブ顕微鏡 (SPM, STM, AFM)
仕様 SEM像を観察しながらSTM探針位置を制御可能,到達真空圧力:3×10-8Pa,探針のx/y/z走査範囲:4/4/2.5μm,分解能:Si(111)7×7のアドアトムの分離,トンネル電流の検出下限:1pA,加速電圧:3~20kV,2次電子像分解能:3.5 nm(at 15 kV) 
設備の所属 名古屋大学  大学院工学研究科   
利用受付  
備考 装置が特殊で,観察試料に制約があることから,装置の利用申込みは,個別に相談させて頂いています。利用を希望される場合は,齋藤(ysaito@nagoya-u.jp)までご連絡下さい。 
公開範囲
国立大学法人・大学共同利用機関法人 ×
その他研究・教育機関 ×
公企業・私企業 ×

特殊な装置のため,試料に制約があります。また,操作は習熟した研究室スタッフしか行なうことができないため,利用日が制約されます。

予算措置
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利用料金

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お問合せ先
自然科学研究機構分子科学研究所

〒444-8585 愛知県岡崎市明大寺町字西郷中38番地
大学連携研究設備ネットワーク事務局
電話番号:0564-55-7490
Email:

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