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利用可能研究設備詳細

設備名 超薄膜評価装置(HD-2000)
設備コード S-HD-HU-RIES-15
カテゴリ 超薄膜評価装置(STEM)
仕様 観察用として明・暗視野透過電子検出器と二次電子検出器を,分析用としてエネルギー分散型特性X線検出器と実時間軽元素分布像観察装置を備え、これにより,原子レベルの微細構造観察と,サブナノメートル領域の軽元素分布像が観察可能な装置。
加速電圧 200kV
格子分解能 0.24nm
SEM観察像 2次電子観察
STEM観察 明視野像
暗視野像(Zコントラスト) 
設備の所属 北海道大学  電子科学研究所   
利用受付  
備考 http://openfacility.cris.hokudai.ac.jp/apparatus_list 
公開範囲
国立大学法人・大学共同利用機関法人
その他研究・教育機関
公企業・私企業
予算措置
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利用料金

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お問合せ先
自然科学研究機構分子科学研究所

〒444-8585 愛知県岡崎市明大寺町字西郷中38番地
大学連携研究設備ネットワーク事務局
電話番号:0564-55-7490
Email:

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