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利用可能研究設備詳細

設備名 高分解能電界放射型走査型電子顕微鏡(JSM-7400F)
設備コード S-HD-HU-ICAT-06
カテゴリ 透過型電子顕微鏡 (TEM)
仕様 試料表面を収束電子線で走査し、放射する電子線を画像化する装置。表面構造の解析に用いる。
二次電子分解能:1.0nm 保証(加速電圧15kV) 1.5nm 保証(加速電圧1kV)
倍率:25?650,000 倍
加速電圧:0.1?30kV
試料ステージ:150mm、オプション200mm、100mm×40mmH
試料移動範囲:X: 70mm Y: 50mm 
設備の所属 北海道大学  触媒科学研究所   
利用受付  
備考 http://openfacility.cris.hokudai.ac.jp/apparatus_list 
公開範囲
国立大学法人・大学共同利用機関法人
その他研究・教育機関
公企業・私企業
予算措置
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利用料金

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お問合せ先
自然科学研究機構分子科学研究所

〒444-8585 愛知県岡崎市明大寺町字西郷中38番地
大学連携研究設備ネットワーク事務局
電話番号:0564-55-7490
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